Печать

2013 №03 (04) 2013 №03 (06)


«Техническая диагностика и неразрушающий контроль», 2013, №3, с. 31-35

ОПТИМИЗАЦИЯ ПРОЦЕДУРЫ ТЕПЛОВОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ СОТОВЫХ КОНСТРУКЦИЙ

В.А. СТОРОЖЕНКО1, А.В. МЯГКИЙ1, С.Б. МАЛИК1, В.Г. ТИХИЙ2


1Харьковский нац. ун-т радиоэлектроники. Харьков, 61166, пр-т Ленина, 14. E-mail: Fizika@kture.kharkov.ua
2ГП «Конструкторское бюро «Южное». 49008, Днепропетровск, ул. Криворожская. E-mail: info@yuzhnoye.com
Реферат:
Построена теоретическая модель теплофизических процессов в многослойной сотовой конструкции, заполненных полимерным сотопластом. Рассчитаны режимы оптимального контроля сотовых конструкций на наличие дефектов типа непроклей по критерию оптимизации сигнал/помеха. Предложен ряд способов борьбы с высокими помехами, вызванными неоднородностью излучательной способности и клеевого слоя, основанных на дифференциальной фильтрации термограмм, полученных в оптимальном режиме контроля. Проведен ряд экспериментов по выявлению указанных дефектов с применением разработанных подходов. Библиогр. 5, табл. 1, рис. 8.
Ключевые слова: тепловая дефектометрия, сотовая конструкция, дефект типа непроклей, оптимальный режим контроля
A theoretical model of thermophysical processes in a multilayer honeycomb structure, filled with polymer honeycomb plastic, was constructed. Modes of optimum testing of honeycomb structures for defects of the type of lacks-of-adhesion by the criterion of signal/noise optimization were calculated. Methods for eliminating high noise caused by nonuniformity of the emittance and of adhesive layer are proposed, which are based on differential filtering of thermograms derived in the optimum testing mode. A number of experiments have been conducted to detect the above defects with application of the developed approaches. 5 References, 1 Table, 8 Figures.
Keywords: thermal flaw detection, honeycomb structure, lack-of-adhesion type defect, optimum testing mode
1. Стороженко В. А., Маслова В. А. Термография в диагностике и неразрушающем контроле. – Харьков.: Смит, 2004. – 160 с.
2. Xavier P. V. Maldague. Theory and Practice of Infrared Technology for Nondestructive Testing. – John Wiley & Sons, Inc., 2001. – P. 684.
3. Вавилов В. П. Инфракрасная термография и тепловой контроль. – М.: ИД Спектр, 2009. – 544 с.
4. Лыков А.В. Теория теплопроводности. – М.: Высш. шк., 1967. – 602 с.
5. Стороженко В. А., Малик С. Б., Мягкий А. В. Оптимизация режимов тепловой дефектоскопии на основе теплофизического моделирования // Вісн. Нац. техн. ун-ту «ХПІ». Зб. наук. праць. Тематичний випуск: Прилади і методи неруйнівного контролю. – Харків: НТУ «ХПІ» – № 48. – 2008. – С. 84–91.
Поступила в редакцию 07.11.2011
Подписано в печать 06.09.2013