Eng
Ukr
Rus
Печать
2014 №03 (06) 2014 №03 (01)

Техническая диагностика и неразрушающий контроль 2014 #03
Техническая диагностика и неразрушающий контроль, №3, 2014 стр. 55-60
 
МЕТОД МНОГОПАРАМЕТРОВЫХ ВИХРЕТОКОВЫХИЗМЕРЕНИЙ ТОЛЩИНЫ, ЭЛЕКТРОПРОВОДНОСТИ МАТЕРИАЛА И ТОЛЩИНЫ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПОКРЫТИЯ ЭЛЕМЕНТОВ КОНСТРУКЦИЙ
 
Авторы:
А. Я. Тетерко, В. И. Гутник, Г. Г. Луценко, А. А. Тетерко
 
Реферат:
На основе концепции построения нелинейной обратной функции преобразования системы вихретоковый преобразователь–модуль обработки сигналов представлен метод многопараметрового контроля толщины, электропроводности материала и толщины защитного диэлектрического покрытия стенок и оболочек изделий из неферромагнитных материалов. Метод обеспечивает уменьшение до десятых долей процента оценку погрешностей контроля указанных параметров и соответственно повышение достоверности результатов диагностики состояния контролируемых объектов, а также характеризуется простотой его программной реализации в аппаратуре. Библиогр. 15, рис. 1.
 
Ключевые слова: нелинейная функция преобразования, модуль обработки сигналов, электропроводность материалов, оценка погрешности
 
The concept of plotting the nonlinear inverse function of conversion of «eddy current transducer – signal processing module» system was used as the basis for presentation of the method of multiparametral control of thickness, electric conductivity of material and thickness of protective dielectric coating of the wall and shells of items from non-ferromagnetic materials. Method ensures reduction of evaluation of error in control of the above parameters to tens fractions of a percent and improvement of validity of the results of diagnostics of controlled object state, as is also characterized by simplicity of its program realization in the instrumentation. 15 References, 1 Figure.
 
Keywords: method of multiparametral eddy current changes, control of coating thickness, parameter control error, diagnostics of controlled object state
 
1. Неразрушающий контроль. Справочник в 8-ми т. Т. 2. Вихретоковый контроль, кн. 2 / Под ред. В. В.Клюева. – М.: Машиностроение, 2006. – 954 с.
2. Гордиенко В. И., Рыбачук В. Г., Тетерко А. Я. Влияние зазора на точность фазовых измерителей удельной электрической проводимости // Техн. электродинамика. – 1988. – № 5. – С. 96–101.
3. А. с. 298880 СССР, МКИ G 01 N 27/04, G 01 r 27/02. Способ контроля удельного сопротивления электропроводных изделий / В. П. Денискин, А. С. Попов, Л. И. Трахтенберг. – № 1359833/18-10; Заявл. 25.08.69; Опубл. 16.03.71, Бюл. № 11.
4. А. с. 828062 СССР, МКИ G 01 N 27/90. Способ электромагнитного контроля и устройство для его осуществления / А. С. Бакунов, Е. Г. Беликов, Ю. Я. Останин. – № 2784589/25-28; Заявл. 22.06.79; Опубл. 07.05.81, Бюл. № 17.
5. Пат. UA 98206 С2, МПК G01N 27/90. Спосіб вимірювання електропровідності немагнітних матеріалів / В. М. Учанін. – Заявка № а 2010 10467; Заявл. 30.08.2010; Опубл. 25.04.2012, Бюл. № 8.
6. Федосенко Ю. К. Основы нелинейной теории многопараметрового вихретокового контроля металлических объектов // Дефектоскопия. – 1981. – № 6. – С. 38–45.
7. Федосенко Ю. К. Численный анализ систем уравнений нелинейной теории многопарметрового вихретокового контроля металлических объектов // Там же. – 1981. – № 7. – С. 18–23.
8. Тетерко А. Я., Назарчук З. Т. Селективна вихрострумова дефектоскопія. – Львів: Фіз-мех. ін-т ім. Г. В. Карпенка НАН України, 2004. – 248 с.
9. Пат. UA 102446 С2, МПК G01N 27/90. Спосіб вихрострумових селективних вимірювань параметрів оболонок / А. Я. Тетерко, Г. Г. Луценко, В. І. Гутник. – Заявка № а 201113535; Заявлено 17.11.2011; Опубл. 10.07.2013. Бюл. № 13.
10. Лоусон Ч., Хенсон Р. Численное решение задач методом наименьших квадратов. – М.: Наука, 1986. – 232 с.
11. Новицкий В. П., Зограф И. А. Оценка погрешностей результатов измерений. – Л.: Энергоатомиздат, 1991. – 302 с.
12. Беклемешев Д. В. Дополнительные главы линейной алгебры. – М.: Наука, 1983. – 333 с.
13. Діагностика технічного стану авіаконструкцій після довготривалої експлуатації / О. П. Осташ, Д. С. Ківа, В. М. Учанін та ін. // Техн. диагностика и неразруш. контроль. – 2013. – № 2. – С. 15–22.
14. US Pat. 6593738, G 01N 27/72, G 01B 007/10, G 01R 033/12. Method and apparatus for measuring thickness of conductive films with use of inductive and capacitive sensors / Kesil B., Margulis D., Gershenzon E.(UA). – Publ. 07.05.2003.
15. Пат. UA 103657 С2, МПК G01N 27/90,G01R 33/12. Вихрострумовий спосіб вимірювання питомої електропровідності немагнітних матеріалів / А. Я. Тетерко, В. М. Учанін, В. І. Гутник, О. А. Тетерко. – Заявка №а 2011 10735; Заявл. 06.09.2011; Опубл. 11.11.2013. Бюл. № 21.
 
Поступила в редакцию 12.05.2014
Подписано в печать 29.07.2014
>